Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Icard, B."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Metrology and Linewidth roughness issues during complex metal/high-k gate stack patterning for sub-20nm technological nodes
Autorzy :
Pargon, E.
Fouchier, M.
Brihoum, M.
Azarnouche, L.
Menguelti, K.
Jussot, J.
Ros, O.
Icard, B.
Gouraud, P.
Pokaż więcej
Temat :
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Źródło :
60th International AVS Symposium & Topical Conferences
60th International AVS Symposium & Topical Conferences, Oct 2013, Long Beach, United States
Dostępność :
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::2426e37296bf00a0edfdfd2965eab6c3
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00951022
Tytuł :
Holed MEMS resonators with High aspect ratio and frequency compensated
Autorzy :
Civet, Y.
Casset, F.
Carpentier, J.F.
Icard, B.
Bustos, J.
Leverd, F.
Mercier, D.
Basrour, Skandar
Pokaż więcej
Temat :
MEMS
resonator
PACS 85.42
[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Źródło :
Proc of 22nd Micromechanics and Micro systems Europe Workshop (MME'11)
22nd Micromechanics and Micro systems Europe Workshop (MME'11)
22nd Micromechanics and Micro systems Europe Workshop (MME'11), Jun 2011, Tonsberg, Norway. pp.158-161
Dostępność :
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::05e06cbf1da70dcb92e7539adc83f654
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00643898
Tytuł :
Impact of direct CMP on porous ULK properties and interconnect propagation performance on a wide frequency bandwidth
Autorzy :
Gallitre, M.
Gall, S.
Farcy, A.
Blampey, B.
Icard, B.
Jousseaume, V.
Guillermet, M.
Brun, P.
Grosgeaorges, P.
Sbrugnera, V.
Bustos, J.
Bermond, C.
Lacrevaz, T.
Fléchet, B.
Rivoire, M.
Ancey, P.
Pokaż więcej
Temat :
[SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Źródło :
25th Advanced Metallization Conference, AMC 2008
25th Advanced Metallization Conference, AMC 2008, Sep 2008,-, France
Dostępność :
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::ccb37872eb847a192a64905dd2b57d2b
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397928

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies