Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Ion beam analysis"" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Ion Beams and X-ray Methods for the Planar Nanostructures Diagnostics
Autorzy:
Egorov, V.Aff1, IDS1063739723600644_cor1
Egorov, E.Aff1, Aff2, Aff3
Pokaż więcej
Źródło:
Russian Microelectronics. 52(Suppl 1):S267-S273
Czasopismo naukowe
Tytuł:
MACHINA, the Movable Accelerator for Cultural Heritage In-situ Non-destructive Analysis: project overview
Autorzy:
Taccetti, F.
Castelli, L.
Chiari, M.
Czelusniak, C.Aff1, IDs12210022011206_cor4
Falciano, S.Aff2, Aff3
Fedi, M.
Giambi, F.Aff1, Aff4
Mandò, P. A.Aff1, Aff4
Manetti, M.
Massi, M.
Mazzinghi, A.Aff1, Aff4
Ruberto, C.Aff1, Aff4
Ronzino, P.
Bini, I.
Frati, S.
Benetti, F.
Cestelli Guidi, M.
Ciatti, M.
Frosinini, C.
Rossi, S.
Mathot, S.
Anelli, G.
Cipolla, G.
Grudiev, A.
Lombardi, A.
Milne, E.
Montesinos, E.
Pommerenke, H.
Scibor, K.
Vretenar, M.
Giuntini, L.Aff1, Aff4, IDs12210022011206_cor31
Pokaż więcej
Źródło:
Rendiconti Lincei. Scienze Fisiche e Naturali. 34(2):427-445
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Electron Spectroscopy of Charge Exchange Effects in Low Energy Ion Scattering at Surfaces: Case Studies of Heavy Ions at Al Surface
Autorzy:
Pierfrancesco Riccardi
Pokaż więcej
Temat:
surface scattering
autoionization and auger processes
ion beam analysis
electron emission
Physics
QC1-999
Źródło:
Surfaces, Vol 6, Iss 1, Pp 64-82 (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://www.mdpi.com/2571-9637/6/1/6; https://doaj.org/toc/2571-9637
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/436d3b246ab74737837a2ea8ad5c2503  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Thin films sputter-deposited from EUROFER97 in argon and deuterium atmosphere: Material properties and deuterium retention
Autorzy:
E. Pitthan
P. Petersson
T.T. Tran
D. Moldarev
R. Kaur
J. Shams-Latifi
P. Ström
M. Hans
M. Rubel
D. Primetzhofer
Pokaż więcej
Temat:
Plasma facing components
EUROFER97
Sputtering deposition
Ion beam analysis
Deuterium retention
Nuclear engineering. Atomic power
TK9001-9401
Źródło:
Nuclear Materials and Energy, Vol 34, Iss , Pp 101375- (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2352179123000145; https://doaj.org/toc/2352-1791
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/57e183ba824a49beb478fdf85c28e14f  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Synthesis of CoZn nanowire in anodic aluminum templets and their characterization by Rutherford backscattering spectrometry
Autorzy:
Zeinab Sadat Imani
Mohammad Torkiha
Omid Reza Kakuee
Mahsa Moazzemi-Ghamsari
Pokaż więcej
Temat:
ion beam analysis
rutherford backscattering spectroscopy
anodic aluminum oxide
depth profile of elements
cozn nanowire
Physics
QC1-999
Źródło:
Iranian Journal of Physics Research, Vol 22, Iss 1, Pp 129-137 (2022)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://ijpr.iut.ac.ir/article_1771_379a3b8992e8f708f3cdda5cbb8fa1af.pdf; https://doaj.org/toc/1682-6957; https://doaj.org/toc/2345-3664
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/2a3dfbc95b5946009b826b31b9c879f1  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Ion Beam Analysis and 14C Accelerator Mass Spectroscopy to Identify Ancient and Recent Art Forgeries
Autorzy:
Lucile Beck
Pokaż więcej
Temat:
ion beam analysis (IBA)
14C accelerator mass spectroscopy (AMS)
forgeries
silver coins
counterfeit coins
painting
Physics
QC1-999
Źródło:
Physics, Vol 4, Iss 2, Pp 462-472 (2022)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://www.mdpi.com/2624-8174/4/2/31; https://doaj.org/toc/2624-8174
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/0cfe4b4ea3a740db8c34e3915dd11d91  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Retention of deuterium in beryllium: A combined investigation using TDS, ERDA and EBS
Autorzy:
C. Cupak
E. Pitthan
M.V. Moro
M. Fellinger
D. Primetzhofer
F. Aumayr
Pokaż więcej
Temat:
Deuterium
Beryllium
Retention
Ion beam analysis
Temperature desorption spectroscopy
Nuclear engineering. Atomic power
TK9001-9401
Źródło:
Nuclear Materials and Energy, Vol 33, Iss , Pp 101249- (2022)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2352179122001302; https://doaj.org/toc/2352-1791
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/d4056e953dd64c4cba6c874bee7cfd32  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies