Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Isobe, T."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Gate threshold voltage instability and on-resistance degradation under reverse current conduction stress on E-mode GaN-HEMTs
Autorzy :
Nakayama, T.
Pokaż więcej
Źródło :
In 31st European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2020, Microelectronics Reliability November 2020 114
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Plasma levels of n-3 fatty acids and risk of coronary heart disease among Japanese: The Japan Public Health Center-based (JPHC) study
Autorzy :
Tsugane, S.
Pokaż więcej
Źródło :
In Atherosclerosis May 2018 272:226-232
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies