- Tytuł:
- Comparative study of electrical investigation for temperature measurement in AlGaN/GaN HEMT.
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Computational Electronics; Feb2024, Vol. 23 Issue 1, p42-50, 9p
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.