Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Jenkins, K.A."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
A Scalable, Digital BIST Circuit for Measurement and Compensation of Static Phase Offset.
Autorzy :
Jenkins, K.A.
Li, L.
Pokaż więcej
Źródło :
2009 27th IEEE VLSI Test Symposium; 2009, p185-188, 4p
Konferencja
Tytuł :
A circuit-sensitive methodology for evaluating substrate noise.
Autorzy :
Liobe, J.
Jenkins, K.A.
Pokaż więcej
Źródło :
2005 IEEE Radio Frequency integrated Circuits (RFIC) Symposium - Digest of Papers; 2005, p657-661, 5p
Konferencja
Tytuł :
Stress memorization in high-performance FDSOI devices with ultra-thin silicon channels and 25nm gate lengths.
Autorzy :
Singh, D.V.
Sleight, J.W.
Hergenrother, J.M.
Ren, Z.
Jenkins, K.A.
Dokumaci, O.
Black, L.
Chang, J.B.
Nakayama, H.
Chidambarrao, D.
Venigalla, R.
Pan, J.
Natzle, W.
Tessier, B.L.
Nomura, A.
Ott, J.A.
Ieong, M.
Haensch, W.
Pokaż więcej
Źródło :
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p505-508, 4p
Konferencja
Tytuł :
Substrate coupling noise issues in silicon technology.
Autorzy :
Jenkins, K.A.
Pokaż więcej
Źródło :
2004 Digest of Papers. 2004 Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems; 2004, p91-94, 4p
Konferencja

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies