- Tytuł:
- Ohmic contact characterization of AlGaN/GaN device layers with spatially localized LEEN spectroscopy
- Autorzy:
- Źródło:
- In Solid State Electronics 2002 46(9):1427-1431
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.