Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Jhang, Kyung-Young"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Multisensor – Systems – A Versatile Approach to Surface Metrology
Autorzy:
Quinten, Michael
Pokaż więcej
Źródło:
A Practical Guide to Surface Metrology. :219-222
Książka elektroniczna
Tytuł:
Decisions About Product
Autorzy:
Pendrill, Leslie
Pokaż więcej
Źródło:
Quality Assured Measurement : Unification across Social and Physical Sciences. :195-233
Książka elektroniczna
Tytuł:
Measurement Report and Presentation
Autorzy:
Pendrill, Leslie
Pokaż więcej
Źródło:
Quality Assured Measurement : Unification across Social and Physical Sciences. :143-193
Książka elektroniczna
Tytuł:
Measurement Method/System Development
Autorzy:
Pendrill, Leslie
Pokaż więcej
Źródło:
Quality Assured Measurement : Unification across Social and Physical Sciences. :29-65
Książka elektroniczna
Tytuł:
Measurement Challenge: Specification and Design
Autorzy:
Pendrill, Leslie
Pokaż więcej
Źródło:
Quality Assured Measurement : Unification across Social and Physical Sciences. :1-27
Książka elektroniczna

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies