- Tytuł:
- Material loss of silicon nitride thin films in a simulated ocular environment
- Autorzy:
- Źródło:
- Microsystem Technologies: Micro- and NanosystemsInformation Storage and Processing Systems. 27(6):2263-2268
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.