- Tytuł:
- Effect of oxygen-related defects on the performance of seed-end wafers in Ga-doped recharged Czochralski silicon: Thermal donors
- Autorzy:
- Źródło:
-
In
Journal of Crystal Growth 15 March 2024 630
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.