Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Kalmykow, M."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł :
Nanometric deformations of thin Nb layers under a strong electric field using soft x-ray laser interferometry.
Autorzy :
Jamelot, G.
Ros, D.
Carillon, A.
Rus, B.
Mocek, T.
Kozlová, M.
Präg, A. R.
Joyeux, D.
Phalippou, D.
Boussoukaya, M.
Kalmykow, M.
Ballester, F.
Jacques, E.
Pokaż więcej
Temat :
NIOBIUM
NANOSTRUCTURED materials
ELECTRIC fields
ELECTROMAGNETIC fields
LASERS
TRANSITION metals
THIN films
Źródło :
Journal of Applied Physics; 8/15/2005, Vol. 98 Issue 4, p044308, 7p, 4 Color Photographs, 4 Diagrams, 2 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Nanometric deformations of thin Nb layers under a strong electric field using soft x-ray laser interferometry
Autorzy :
Jamelot, Gérard
Ros, David
Carillon, A.
Rus, Bedrich
Mocek, T.
Kozlova, M.
Prag, A.R
Joyeux, Denis
Phalippou, Daniel
Boussoukaya, M.
Kalmykow, M.
Ballester, F.
Jacques, E.
Pokaż więcej
Temat :
[PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]
Źródło :
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2005, 98 (4), pp.044308 - 044308-7. ⟨10.1063/1.2010620⟩
Journal of Applied Physics
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies