Autor: "Kampherbeek, B. J." - OpacWWW

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Kampherbeek, B. J."" wg kryterium: Autor

Wyświetlanie 1-10 z 10

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1 1.

Tytuł :: Mapper: high throughput maskless lithography.
Autorzy :: Kuiper, V.
Kampherbeek, B. J.
Wieland, M. J.
de Boer, G.
ten Berge, G. F.
Boers, J.
Jager, R.
van de Peut, T.
Peijster, J. J. M.
Slot, E.
Steenbrink, S. W. H. K.
Teepen, T. F.
van Veen, A. H. V.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 3, Issue 1, p74700Q-74700Q-5, 5p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2 2.

Tytuł :: MAPPER: high-throughput maskless lithography.
Autorzy :: Wieland, M. J.
de Boer, G.
ten Berge, G. F.
Jager, R.
van de Peut, T.
Peijster, J. J. M.
Slot, E.
Steenbrink, S. W. H. K.
Teepen, T. F.
van Veen, A. H. V.
Kampherbeek, B. J.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 2, Issue 1, p72710O-72710O-8, 8p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3 3.

Tytuł :: MAPPER: high throughput maskless lithography.
Autorzy :: Slot, E.
Wieland, M. J.
de Boer, G.
Kruit, P.
ten Berge, G. F.
Houkes, A. M. C.
Jager, R.
van de Peut, T.
Peijster, J. J. M.
Steenbrink, S. W. H. K.
Teepen, T. F.
van Veen, A. H. V.
Kampherbeek, B. J.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211P-69211P-9, 9p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4 4.

Tytuł :: Patterning fidelity on low-energy multiple-electron-beam direct write lithography.
Autorzy :: Chang, S. M.
Lin, S. J.
Lin, C. A.
Chen, J. H.
Gau, T. S.
Lin, Burn J.
Veltman, P.
Hanfoug, R.
Slot, E.
Wieland, M. J.
Kampherbeek, B. J.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211R-69211R-9, 9p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5 5.

Tytuł :: High throughput maskless lithography: low voltage versus high voltage.
Autorzy :: Steenbrink, S. W. H. K.
Kampherbeek, B. J.
Wieland, M. J.
Chen, J. H.
Chang, S. M.
Pas, M.
Kretz, J.
Hohle, C.
van Steenwinckel, D.
Manakli, S.
Le-Denmat, J.
Pain, L.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p69211T-69211T-10, 10p
: Konferencja

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6 6.

Tytuł :: Resolution of the multiple aperture pixel by pixel enhancement of resolution electron lithography concept.
Autorzy :: Kampherbeek, B. J.
Wieland, M. J.
Kruit, P.; Pokaż więcej
Źródło :: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2000, Vol. 18 Issue 1, p117-121, 5p
: Czasopismo naukowe

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7 7.

Tytuł :: Scanning exposures with a MAPPER multibeam system
Autorzy :: van den Berg, C.
de Boer, G.
Boschker, S.
Hakkennes, E. A.
Holgate, G.
Hoving, M.
Jager, R.
Koning, J. J.
Kuiper, V.
Ma, Yue
van Mil, I. L.
Mook, H. W.
Ooms, T.
van de Peut, T.
Postma, S.
Sanderse, M.
Scheffers, P.
Slot, E.
Tudorie, A.
Valkering, A. M. C.
Venema, N.
Vergeer, N.
Weirsma, A.
Woutersen, S.
Wieland, M. J.
Kampherbeek, B. J.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; March 2011, Vol. 7970 Issue: 1 p79700D-79700D-9, 717310p
: Periodyk

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8 8.

Tytuł :: IMAGINE: an open consortium to boost maskless lithography take off: first assessment results on MAPPER technology
Autorzy :: Pain, L.
Icard, B.
Martin, M.
Constancias, C.
Tedesco, S.
Wiedeman, P.
Farah, A.
Kampherbeek, B. J.
Pieczulewski, C.
Kandrashov, H.; Pokaż więcej
Źródło :: Proceedings of SPIE; March 2011, Vol. 7970 Issue: 1 p79700Y-79700Y-11, 7890312p
: Periodyk

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9 9.

Tytuł :: An experimental setup to test the MAPPER electron lithography concept
Autorzy :: Kampherbeek, B. J.
Wieland, M. J.
Zuuk, A. van
Kruit, P.; Pokaż więcej
Źródło :: Microelectronic Engineering; 2000, Vol. 53 Issue: 1 p279-282, 4p
: Periodyk

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10 10.

Informacja :: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.
: Konferencja

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 10

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Kampherbeek, B. J."" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Wydawca

Publikacja

Język