Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Ukraiński (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Keisuke Yasuda"" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-11 z 11
    Tytuł:
    Microbial differences between active and remission peri-implantitis
    Autorzy:
    Yuhei Hashimoto
    Shinsuke Okada
    Keisuke Yasuda
    Maiko Kawagoe
    Mikihito Kajiya
    Kazuhiro Tsuga
    Pokaż więcej
    Temat:
    Medicine
    Science
    Źródło:
    Scientific Reports, Vol 12, Iss 1, Pp 1-8 (2022)
    Opis pliku:
    electronic resource
    Relacje:
    https://doaj.org/toc/2045-2322
    Dostęp URL:
    https://doaj.org/article/e71e74d9b02f49c4a6b8aba5bd984364  Link otwiera się w nowym oknie
    Czasopismo naukowe
    Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie Pełny tekstSzczegóły
    Tytuł:
    Bone turnover markers to assess jawbone quality prior to dental implant treatment: a case-control study
    Autorzy:
    Keisuke Yasuda
    Shinsuke Okada
    Yohei Okazaki
    Kyou Hiasa
    Kazuhiro Tsuga
    Yasuhiko Abe
    Pokaż więcej
    Temat:
    Bone implant interactions
    Clinical research
    Prosthodontics
    Radiology
    Imaging
    Medicine
    Dentistry
    RK1-715
    Źródło:
    International Journal of Implant Dentistry, Vol 6, Iss 1, Pp 1-9 (2020)
    Opis pliku:
    electronic resource
    Relacje:
    http://link.springer.com/article/10.1186/s40729-020-00264-0; https://doaj.org/toc/2198-4034
    Dostęp URL:
    https://doaj.org/article/9f41e18f4d5c4ed68bb5284ea025dbdb  Link otwiera się w nowym oknie
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
    Tytuł:
    Time-Of-Flight ERDA for Depth Profiling of Light Elements
    Autorzy:
    Keisuke Yasuda
    Pokaż więcej
    Temat:
    TOF-ERDA
    ERDA
    light elements
    depth profiling
    Technology
    Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
    TK1-9971
    Źródło:
    Quantum Beam Science, Vol 4, Iss 4, p 40 (2020)
    Opis pliku:
    electronic resource
    Relacje:
    https://www.mdpi.com/2412-382X/4/4/40; https://doaj.org/toc/2412-382X
    Dostęp URL:
    https://doaj.org/article/1f3d9d7b413d4ff482477822c3315539  Link otwiera się w nowym oknie
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
    Tytuł:
    Localization of Aluminum in Epidermal Cells of Mature Tea Leaves
    Autorzy:
    Yoichi Haruyama
    Tsuguhisa Fujiwara
    Keisuke Yasuda
    Manabu Saito
    Kohtaku Suzuki
    Pokaż więcej
    Temat:
    tea
    aluminum
    spatial distribution
    micro-beam
    PIXE
    Technology
    Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
    TK1-9971
    Źródło:
    Quantum Beam Science, Vol 3, Iss 2, p 9 (2019)
    Opis pliku:
    electronic resource
    Relacje:
    https://www.mdpi.com/2412-382X/3/2/9; https://doaj.org/toc/2412-382X
    Dostęp URL:
    https://doaj.org/article/94789019cbc14d659b3ed155f7ac1541  Link otwiera się w nowym oknie
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
    Tytuł:
    Effective UV/Ozone irradiation method for decontamination of hydroxyapatite surfaces
    Autorzy:
    Keisuke Yasuda
    Yohei Okazaki
    Yasuhiko Abe
    Kazuhiro Tsuga
    Pokaż więcej
    Temat:
    Engineering
    Bioengineering
    Materials science
    Science (General)
    Q1-390
    Social sciences (General)
    H1-99
    Źródło:
    Heliyon, Vol 3, Iss 8 (2017)
    Opis pliku:
    electronic resource
    Relacje:
    http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2405844017307697; https://doaj.org/toc/2405-8440
    Dostęp URL:
    https://doaj.org/article/62b74029814e4a0c9fd54d3a8f1f4ae3  Link otwiera się w nowym oknie
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-11 z 11

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies