- Tytuł:
- Investigation of safe operating area and behavior of unclamped inductive switching on 4H-SiC VDMOSFET
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability April 2024 155
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.