- Tytuł:
- Mid- and near-IR ellipsometry of Y1−xPrxBa2Cu3O7epitaxial films
- Autorzy:
- Źródło:
-
Thin Solid Films ; October 1993, Vol. 234 Issue: 1-2 p518-521, 4p
Periodyk
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.