Autor: "Klar, Peter J." - OpacWWW

Skocz do pozycji: 1.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Comparing Raman mapping and electron microscopy for characterizing compositional gradients in thermoelectric materials
Autorzy:: Yasseri, Mohammad
Schüpfer, Dominique
Weinhold, Marcel
Chen, Limei
Kamila, Hasbuna
Müller, Eckhard
de Boor, Johannes
Klar, Peter J.; Pokaż więcej
Źródło:: In Scripta Materialia 1 April 2020 179:61-64

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: From stannous oxide to stannic oxide epitaxial films grown by pulsed laser deposition with a metal tin target
Autorzy:: Li, Mingkai
Zheng, Lilan
Zhang, Mi
Lin, Yinyin
Li, Lei
Lu, Yinmei
Chang, Gang
Klar, Peter J.
He, Yunbin; Pokaż więcej
Źródło:: In Applied Surface Science 1 February 2019 466:765-771

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Correction to: Non-invasive assessment of plasma parameters inside an ion thruster combining optical emission spectroscopy and principal component analysis
Autorzy:: Nauschütt, Benny T.Aff1, IDepjtis40485021000756_cor1
Chen, Limei
Holste, Kristof
Klar, Peter J.; Pokaż więcej
Źródło:: EPJ Techniques and Instrumentation. 8(1)

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Global models for radio-frequency ion thrusters
Autorzy:: Dietz, Patrick
Reeh, Andreas
Keil, Konstantin
Holste, Kristof
Probst, Uwe
Klar, Peter J.
Volkmar, Chris; Pokaż więcej
Źródło:: EPJ Techniques and Instrumentation. 8(1)

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Non-invasive assessment of plasma parameters inside an ion thruster combining optical emission spectroscopy and principal component analysis
Autorzy:: Nauschütt, Benny T.Aff1, IDepjtis4048502100070x_cor1
Chen, Limei
Holste, Kristof
Klar, Peter J.; Pokaż więcej
Źródło:: EPJ Techniques and Instrumentation. 8(1)

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Physical Modelling of the Set of Performance Curves for Radial Centrifugal Pumps to Determine the Flow Rate.
Autorzy:: Reeh, Nils
Manthei, Gerd
Klar, Peter J.; Pokaż więcej
Źródło:: Applied System Innovation (ASI); Dec2023, Vol. 6 Issue 6, p111, 17p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Selective-area growth and transport properties of MnAs/InAs heterojunction nanowires
Autorzy:: Hara, Shinjiro
Elm, Matthias T.Aff2, Aff3, Aff4
Klar, Peter J.Aff2, Aff3; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Materials Research. 34(23):3863-3876

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: Structure and Thermoelectric Properties of Nanostructured Bi1−xSbx Alloys Synthesized by Mechanical Alloying
Autorzy:: Güneş, EkremAff1, Aff2
Landschreiber, Bernadette
Homm, Gert
Wiegand, Christoph
Tomeš, Petr
Will, Christian
Elm, Matthias T.Aff3, Aff5, Aff6
Paschen, Silke
Klar, Peter J.Aff3, Aff5
Schlecht, Sabine
Wickleder, Mathias S.; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Electronic Materials. 47(10):6007-6015

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Global model of a radio-frequency ion thruster based on a holistic treatment of electron and ion density profiles
Autorzy:: Reeh, Andreas
Probst, UweAff1, Aff2
Klar, Peter J.; Pokaż więcej
Źródło:: The European Physical Journal D: Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics. 73(11)

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Structural and Thermoelectric Properties of Nanostructured Nominally Stoichiometric Pb1−x Bi x Te Prepared by Mechanical Alloying
Autorzy:: Falkenbach, Oliver
Loeh, Marc O.
Wiegand, Christoph W.
Schmitz, Andreas
Hartung, David
Koch, Guenter
Klar, Peter J.
Mueller, Eckhard
Schlecht, Sabine; Pokaż więcej
Źródło:: Journal of Electronic Materials. October 2017 46(10):5781-5791

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: On the Highly Ordered Graphene Structure of Non-Graphitic Carbons (NGCs)—A Wide-Angle Neutron Scattering (WANS) Study.
Autorzy:: Osswald, Oliver
Loeh, Marc O.
Badaczewski, Felix M.
Pfaff, Torben
Fischer, Henry E.
Franz, Alexandra
Hoffmann, Jens-Uwe
Reehuis, Manfred
Klar, Peter J.
Smarsly, Bernd M.; Pokaż więcej
Temat:: X-ray scattering
NEUTRON scattering
GRAPHENE
PHENOLIC resins
COKE (Coal product)
CARBON
Źródło:: C; Mar2023, Vol. 9 Issue 1, p27, 30p
Terminy geograficzne:: GRENOBLE (France)

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Modifying graphene’s lattice dynamics by hot-electron injection from single gold nanoparticles
Autorzy:: Weinhold, Marcel
Chatterjee, Sangam
Klar, Peter J.; Pokaż więcej
Źródło:: Communications Physics. 2(1)

Czasopismo naukowe

na półce

Pełny tekst Pełny tekst Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę ""Klar, Peter J."" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język

Rok publikacji