- Tytuł:
- A 300-mK Test Bed for Rapid Characterization of Microwave SQUID Multiplexing Circuits
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Low Temperature Physics. 193(5-6):886-892
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.