Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Kranz, Christine"" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Atomic force and infrared spectroscopic studies on the role of surface charge for the anti-biofouling properties of polydopamine films.
Autorzy:
Caniglia, Giada
Teuber, Andrea
Barth, Holger
Mizaikoff, Boris
Kranz, Christine
Pokaż więcej
Temat:
SURFACE charges
NUCLEAR forces (Physics)
POINTS of zero charge
ANTIMICROBIAL polymers
ATOMIC force microscopy
ATTENUATED total reflectance
BACTERIAL adhesion
Źródło:
Analytical & Bioanalytical Chemistry; May2023, Vol. 415 Issue 11, p2059-2070, 12p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
The potential of scanning electrochemical probe microscopy and scanning droplet cells in battery research.
Autorzy:
Daboss, Sven
Rahmanian, Fuzhan
Stein, Helge S.
Kranz, Christine
Pokaż więcej
Temat:
ELECTROCHEMISTRY
LITHIUM-ion batteries
ENERGY consumption
ENERGY storage
ATOMIC force microscopy
NANOMECHANICS
Źródło:
Electrochemical Science Advances; Aug2022, Vol. 2 Issue 4, p1-10, 10p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
In Situ Monitoring of Pit Nucleation and Growth at an Iron Passive Oxide Layer by using Combined Atomic Force and Scanning Electrochemical Microscopy.
Autorzy:
Izquierdo, Javier
Eifert, Alexander
Kranz, Christine
Souto, Ricardo M.
Pokaż więcej
Temat:
NUCLEATION
ATOMIC force microscopy
SCANNING electrochemical microscopy
CORROSION & anti-corrosives
SUBSTRATES (Materials science)
ACIDIFICATION
Źródło:
ChemElectroChem; Nov2015, Vol. 2 Issue 11, p1847-1856, 10p
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Physicochemical and Electrochemical Characterization of Electropolymerized Polydopamine Films: Influence of the Deposition Process.
Autorzy:
Kund, Julian
Daboss, Sven
D'Alvise, Tommaso Marchesi
Harvey, Sean
Synatschke, Christopher V.
Weil, Tanja
Kranz, Christine
Pokaż więcej
Temat:
MELANINS
SCANNING electrochemical microscopy
CHARGE transfer kinetics
YOUNG'S modulus
ELECTROCHROMIC effect
COATING processes
ATOMIC force microscopy
CHARGE exchange
Źródło:
Nanomaterials (2079-4991); Aug2021, Vol. 11 Issue 8, p1964, 1p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies