Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Landgren, A J"" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł :
Atomic configuration of the interface between epitaxial Gd doped HfO2 high k thin films and Ge (001) substrates.
Autorzy :
Zhang, Xinqiang
Tu, Hailing
Guo, Yiwen
Zhao, Hongbin
Yang, Mengmeng
Wei, Feng
Xiong, Yuhua
Yang, Zhimin
Du, Jun
Wang, Wenwu
Pokaż więcej
Temat :
PARTICLES (Nuclear physics)
ELECTRON diffraction
PULSED laser deposition
MOLECULAR orbitals
MICROMECHANICS
COATING processes
Źródło :
Journal of Applied Physics; Jan2012, Vol. 111 Issue 1, p014102, 4p, 4 Black and White Photographs, 1 Diagram, 2 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Atomic imaging of nucleation of trimethylaluminum on clean and H2O functionalized Ge(100) surfaces.
Autorzy :
Lee, Joon Sung
Kaufman-Osborn, Tobin
Melitz, Wilhelm
Lee, Sangyeob
Delabie, Annelies
Sioncke, Sonja
Caymax, Matty
Pourtois, Geoffrey
Kummel, Andrew C.
Pokaż więcej
Temat :
ATOMIC theory
NUCLEATION
ORGANOALUMINUM compounds
WATER
METALLIC surfaces
X-ray photoelectron spectroscopy
DENSITY functionals
ULTRAHIGH vacuum
SURFACE chemistry
Źródło :
Journal of Chemical Physics; 8/7/2011, Vol. 135 Issue 5, p054705, 7p, 3 Diagrams, 3 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Plasma-oxidation of Ge(100) surfaces using dielectric barrier discharge investigated by metastable induced electron spectroscopy, ultraviolet photoelectron spectroscopy, and x-ray photoelectron spectroscopy.
Autorzy :
Wegewitz, L.
Dahle, S.
Höfft, O.
Voigts, F.
Viöl, W.
Endres, F.
Maus-Friedrichs, W.
Pokaż więcej
Temat :
OXIDATION
ELECTRON spectroscopy
X-rays
PHOTOELECTRONS
SPECTRUM analysis
Źródło :
Journal of Applied Physics; Aug2011, Vol. 110 Issue 3, p033302, 7p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Temperature dependence of the morphology and electronic structure of ultrathin platinum on TiO2-teminated SrTiO3 (001).
Autorzy :
Wei Guo
Posadas, Agham B.
Demkov, Alexander A.
Pokaż więcej
Temat :
THIN films
PLATINUM
ELECTRONIC structure
SCANNING electron microscopy
ATOMIC force microscopy
X-ray photoelectron spectroscopy
Źródło :
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Nov2017, Vol. 35 Issue 6, p1-5, 5p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Electronic structures of Ga2O3(Gd2O3) gate dielectric on n-Ge(001) as grown and after CF4 plasma treatment: A synchrotron-radiation photoemission study.
Autorzy :
Pi, T.-W.
Lee, W. C.
Huang, M. L.
Chu, L. K.
Lin, T. D.
Chiang, T. H.
Wang, Y. C.
Wu, Y. D.
Hong, M.
Kwo, J.
Pokaż więcej
Temat :
ELECTRONIC structure
GALLIUM
GADOLINIUM
GERMANIUM
SYNCHROTRON radiation
PHOTOEMISSION
Źródło :
Journal of Applied Physics; Mar2011, Vol. 109 Issue 6, p063725, 6p, 4 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Characterizing the effects of etch-induced material modification on the crystallization properties of nitrogen doped Ge2Sb2Te5.
Autorzy :
Washington, J. S.
Joseph, E. A.
Raoux, S.
Jordan-Sweet, J. L.
Miller, D.
Cheng, H.-Y.
Schrott, A. G.
Chen, C.-F.
Dasaka, R.
Shelby, B.
Lucovsky, G.
Paesler, M. A.
Miotti, L.
Lung, H.-L.
Zhang, Y.
Lam, C. H.
Pokaż więcej
Temat :
CRYSTALLIZATION
NITROGEN
SEMICONDUCTOR doping
GERMANIUM
ANTIMONY
TELLURIUM
Źródło :
Journal of Applied Physics; Feb2011, Vol. 109 Issue 3, p034502, 7p, 1 Diagram, 1 Chart, 8 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
The influence of lattice oxygen on the initial growth behavior of heteroepitaxial Ge layers on single crystalline PrO2(111)/Si(111) support systems.
Autorzy :
Giussani, A.
Seifarth, O.
Rodenbach, P.
Müssig, H.-J.
Zaumseil, P.
Weisemöller, T.
Deiter, C.
Wollschläger, J.
Storck, P.
Schroeder, T.
Pokaż więcej
Temat :
GERMANIUM
EPITAXY
STOICHIOMETRY
OXYGEN
SPECTRUM analysis
HETEROSTRUCTURES
CRYSTALS
Źródło :
Journal of Applied Physics; Apr2008, Vol. 103 Issue 8, p084110-10, 10p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 5 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Materials and electrical characterization of molecular beam deposited CeO2 and CeO2/HfO2 bilayers on germanium.
Autorzy :
Brunco, D. P.
Dimoulas, A.
Boukos, N.
Houssa, M.
Conard, T.
Martens, K.
Zhao, C.
Bellenger, F.
Caymax, M.
Meuris, M.
Heyns, M. M.
Pokaż więcej
Temat :
MOLECULAR beams
GERMANIUM
CERIUM oxides
HAFNIUM oxide
ELECTRON energy loss spectroscopy
ELECTRIC currents
Źródło :
Journal of Applied Physics; 7/15/2007, Vol. 102 Issue 2, p024104, 8p, 1 Black and White Photograph, 4 Charts, 6 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies