- Tytuł:
- In situ synchrotron stress mappings to characterize overload effects in fatigue crack growth
- Autorzy:
- Źródło:
- In International Journal of Fatigue April 2019 121:155-162
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.