Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Lewin, Erik"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Spectral artefacts post sputter-etching and how to cope with them – A case study of XPS on nitride-based coatings using monoatomic and cluster ion beams
Autorzy :
Lewin, Erik
Pokaż więcej
Źródło :
In Applied Surface Science 1 June 2018 442:487-500
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies