Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Lou N"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Sarcopenia is associated with the neutrophil/lymphocyte and platelet/lymphocyte ratios in operable gastric cancer patients: a prospective study
Autorzy :
Lin J
Zhang W
Huang Y
Chen W
Wu R
Chen X
Lou N
Wang P
Pokaż więcej
Temat :
Gastric cancer
Sarcopenia
Neutrophil/lymphocyte ratio
Platelet/lymphocyte ratio
Neoplasms. Tumors. Oncology. Including cancer and carcinogens
RC254-282
Źródło :
Cancer Management and Research, Vol Volume 10, Pp 4935-4944 (2018)
Opis pliku :
electronic resource
Relacje :
https://www.dovepress.com/sarcopenia-is-associated-with-the-neutrophillymphocyte-and-plateletlym-peer-reviewed-article-CMAR; https://doaj.org/toc/1179-1322
Dostęp URL :
https://doaj.org/article/11d42aa1d4434a129fbd6b27bd291c38
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Analog/RF CMOS
Autorzy :
Badih El-Kareh
Lou N. Hutter
Pokaż więcej
Źródło :
Silicon Analog Components : Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability. :221-306
Materiał oryginalny :
The terms MOS, MOSFET, and CMOS stand for metal–oxide–silicon, MOS field-effect transistor, and complementary MOS (transistors). In earlier technologies, the metal of choice was aluminum, the insulator (dielectric) was silicon dioxide (or simply, oxide), and the semiconductor was silicon. The term MOS is still used, even for structures having a conductor other than metal, an insulator other than oxide, and a semiconductor material other than silicon.
Książka elektroniczna
Tytuł :
Review of Single-Crystal Silicon Properties
Autorzy :
Badih El-Kareh
Lou N. Hutter
Pokaż więcej
Źródło :
Silicon Analog Components : Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability. :25-63
Książka elektroniczna
Tytuł :
Bipolar and Junction Field-Effect Transistors
Autorzy :
Badih El-Kareh
Lou N. Hutter
Pokaż więcej
Źródło :
Silicon Analog Components : Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability. :151-219
Książka elektroniczna

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies