Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Maex, K."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Characterization of atomic layer deposited nanoscale structure on dense dielectric substrates by X-ray reflectivity
Autorzy :
Travaly, Y.
Pokaż więcej
Źródło :
In Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, Microelectronic Engineering 2005 82(3):639-644
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Layout dependency induced deviation from Poisson area scaling in BEOL dielectric reliability
Autorzy :
Li, Y.-L.
Pokaż więcej
Źródło :
In Proceedings of the 16th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Microelectronics Reliability 2005 45(9):1299-1304
Czasopismo naukowe
Tytuł :
On the two-dimensional capacitance calculation of multiconductor multilayered interconnects
Autorzy :
Ymeri, H.
Nauwelaers, B.
Maex, K.
Pokaż więcej
Alternatywny tytuł :
CALCUL BIDIMENSIONNEL DES CAPACITéS POUR DES INTERCONNEXIONS À CONDUCTEURS MULTIPLES SUR MILIEU MULTICOUCHE
Źródło :
Annales Des Télécommunications. September 2001 56(9-10):550-559
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies