Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Marks, Samuel D."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-10 z 10
Tytuł :
Instrument for in situ hard x-ray nanobeam characterization during epitaxial crystallization and materials transformations.
Autorzy :
Marks, Samuel D.
Quan, Peiyu
Liu, Rui
Highland, Matthew J.
Zhou, Hua
Kuech, Thomas F.
Stephenson, G. Brian
Evans, Paul G.
Pokaż więcej
Temat :
HARD X-rays
THIN film deposition
MAGNETRON sputtering
CRYSTALLIZATION
CRYSTALLINE interfaces
SYNCHROTRONS
FOCUS (Optics)
Źródło :
Review of Scientific Instruments; Feb2021, Vol. 92 Issue 2, p1-8, 8p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Simultaneous scanning near‐field optical and X‐ray diffraction microscopy for correlative nanoscale structure–property characterization.
Autorzy :
Li, Qian (AUTHOR)
Marks, Samuel D. (AUTHOR)
Bean, Sunil (AUTHOR)
Fisher, Michael (AUTHOR)
Walko, Donald A. (AUTHOR)
DiChiara, Anthony D. (AUTHOR)
Chen, Xinzhong (AUTHOR)
Imura, Keiichiro (AUTHOR)
Sato, Noriaki K. (AUTHOR)
Liu, Mengkun (AUTHOR)
Evans, Paul G. (AUTHOR)
Wen, Haidan (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Synchrotron Radiation. Sep2019, Vol. 26 Issue 5, p1790-1796. 7p.
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-10 z 10

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies