Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""McLaughlin, K."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Quantitative Analysis of Deformation Around a Nanoindentation in GaN by STEM Diffraction
Autorzy:
McLaughlin, K K
Clegg, W J
Pokaż więcej
Źródło:
Microscopy of Semiconducting Materials 2007. 120:73-76
Książka elektroniczna

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies