- Tytuł:
- Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability October 2022 137
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.