- Tytuł:
- Analysis of crystal orientation in AlN layers grown on m-plane sapphire
- Autorzy:
- Źródło:
- In Journal of Crystal Growth 15 August 2014 400:54-60
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.