Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Meneghesso, Gaudenzio"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-19 z 19
Tytuł :
A novel on-wafer approach to test the stability of GaN-based devices in hard switching conditions: Study of hot-electron effects.
Autorzy :
Modolo, Nicola (AUTHOR)
Meneghini, Matteo (AUTHOR)
Barbato, Alessandro (AUTHOR)
Nardo, Arianna (AUTHOR)
De Santi, Carlo (AUTHOR)
Meneghesso, Gaudenzio (AUTHOR)
Zanoni, Enrico (AUTHOR)
Sicre, Sebastien (AUTHOR)
Prechtl, Gerhard (AUTHOR)
Curatola, Gilberto (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Microelectronics Reliability. Nov2020, Vol. 114, pN.PAG-N.PAG. 1p.
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Investigation of the degradations in power GaN-on-Si MIS-HEMTs subjected to cumulative γ-ray irradiation.
Autorzy :
Sharma, Chandan (AUTHOR)
Modolo, Nicola (AUTHOR)
Chen, Hsi-Han (AUTHOR)
Tseng, Yang-Yan (AUTHOR)
Tang, Shun-Wei (AUTHOR)
Meneghini, Matteo (AUTHOR)
Meneghesso, Gaudenzio (AUTHOR)
Zanoni, Enrico (AUTHOR)
Singh, Rajendra (AUTHOR)
Wu, Tian-Li (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Microelectronics Reliability. Sep2019, Vol. 100, pN.PAG-N.PAG. 1p.
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Statistics and localisation of vertical breakdown in AlGaN/GaN HEMTs on SiC and Si substrates for power applications.
Autorzy :
Fleury, Clément
Zhytnytska, Rimma
Bychikhin, Sergey
Cappriotti, Mattia
Hilt, Oliver
Visalli, Domenica
Meneghesso, Gaudenzio
Zanoni, Enrico
Würfl, Joachim
Derluyn, Joff
Strasser, Gottfried
Pogany, Dionyz
Pokaż więcej
Źródło :
Microelectronics Reliability. Sep2013, Vol. 53 Issue 9-11, p1444-1449. 6p.
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-19 z 19

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies