Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Meneghesso, Gaudenzio"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Observation of ID-VD Kink in N-Polar GaN MIS-HEMTs at Cryogenic Temperatures.
Autorzy :
Bisi, Davide
Meneghesso, Gaudenzio
Mishra, Umesh K.
Zanoni, Enrico
Wienecke, Steven
Romanczyk, Brian
Li, Haoran
Ahmadi, Elaheh
Keller, Stacia
Guidry, Matthew
De Santi, Carlo
Meneghini, Matteo
Pokaż więcej
Temat :
IMPACT ionization
THRESHOLD voltage
TEMPERATURE
ELECTRON impact ionization
Źródło :
IEEE Electron Device Letters; Mar2020, Vol. 41 Issue 3, p345-348, 4p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies