Autor: "Meneghesso, Gaudenzio" - OpacWWW - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Meneghesso, Gaudenzio"" wg kryterium: Autor

Wyświetlanie 1-10 z 29

Zaznacz stronę

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Trapping and reliability issues in GaN-based MIS HEMTs with partially recessed gate.
Autorzy:: Meneghesso, Gaudenzio
Meneghini, Matteo
Bisi, Davide
Rossetto, Isabella
Wu, Tian-Li
Van Hove, Marleen
Marcon, Denis
Stoffels, Steve
Decoutere, Stefaan
Zanoni, Enrico; Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Reliability. Mar2016, Vol. 58, p151-157. 7p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Failure modes and mechanisms of InP-based and metamorphic high electron mobility transistors
Autorzy:: Meneghesso, Gaudenzio
Zanoni, Enrico; Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Reliability. Apr2002, Vol. 42 Issue 4/5, p685. 24p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Selected papers from ESSDERC 2014.
Autorzy:: Bez, Roberto
Meneghesso, Gaudenzio
Pavan, Paolo
Zanoni, Enrico; Pokaż więcej
Źródło:: Solid-State Electronics. Nov2015, Vol. 113, p1-1. 1p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Scaling of E-mode power GaN-HEMTs for low voltage/low Ron applications: Implications on robustness.
Autorzy:: Benato, Andrea (AUTHOR)
De Santi, Carlo (AUTHOR)
Borga, Matteo (AUTHOR)
Bakeroot, Benoit (AUTHOR)
Filipek, Izabela Kuzma (AUTHOR)
Posthuma, Niels (AUTHOR)
Decoutere, Stefaan (AUTHOR)
Meneghesso, Gaudenzio (AUTHOR)
Zanoni, Enrico (AUTHOR)
Meneghini, Matteo (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Reliability. Nov2023, Vol. 150, pN.PAG-N.PAG. 1p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Reliability analysis of InGaN Blu-Ray laser diode
Autorzy:: Trivellin, Nicola
Meneghini, Matteo
Meneghesso, Gaudenzio
Zanoni, Enrico
Orita, Kenji
Yuri, Masaaki
Tanaka, Tsuyoshi
Ueda, Daisuke; Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Reliability. Sep2009, Vol. 49 Issue 9-11, p1236-1239. 4p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Difluorochloromethane treated thin CdS buffer layers for improved CdTe solar cells.
Autorzy:: Leoncini, Mauro
Artegiani, Elisa
Lozzi, Luca
Barbato, Marco
Meneghini, Matteo
Meneghesso, Gaudenzio
Cavallini, Marco
Romeo, Alessandro; Pokaż więcej
Źródło:: Thin Solid Films. Feb2019, Vol. 672, p7-13. 7p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analysis of magnesium zinc oxide layers for high efficiency CdTe devices.
Autorzy:: Artegiani, Elisa
Leoncini, Mauro
Barbato, Marco
Meneghini, Matteo
Meneghesso, Gaudenzio
Cavallini, Marco
Romeo, Alessandro; Pokaż więcej
Źródło:: Thin Solid Films. Feb2019, Vol. 672, p22-25. 4p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Trapping phenomena and degradation mechanisms in GaN-based power HEMTs.
Autorzy:: Meneghini, Matteo
Tajalli, Alaleh
Moens, Peter
Banerjee, Abhishek
Zanoni, Enrico
Meneghesso, Gaudenzio; Pokaż więcej
Źródło:: Materials Science in Semiconductor Processing. May2018, Vol. 78, p118-126. 9p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Field and hot electron-induced degradation in GaN-based power MIS-HEMTs.
Autorzy:: Tajalli, Alaleh
Meneghini, Matteo
Rossetto, Isabella
Moens, Peter
Banerjee, Abhishek
Zanoni, Enrico
Meneghesso, Gaudenzio; Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Reliability. Sep2017, Vol. 76, p282-286. 5p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Role of p-GaN layer thickness in the degradation of InGaN-GaN MQW solar cells under 405 nm laser excitation.
Autorzy:: Nicoletto, Marco (AUTHOR)
Caria, Alessandro (AUTHOR)
De Santi, Carlo (AUTHOR)
Buffolo, Matteo (AUTHOR)
Huang, Xuanqi (AUTHOR)
Fu, Houqiang (AUTHOR)
Chen, Hong (AUTHOR)
Zhao, Yuji (AUTHOR)
Meneghesso, Gaudenzio (AUTHOR)
Zanoni, Enrico (AUTHOR)
Meneghini, Matteo (AUTHOR); Pokaż więcej
Źródło:: Microelectronics Reliability. Nov2022, Vol. 138, pN.PAG-N.PAG. 1p.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 29

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies