- Tytuł:
- Electrical characterization of defects introduced in n‐Si during electron beam deposition of Pt
- Autorzy:
- Źródło:
- Physica Status Solidi (A) - Applications and Materials Science; October 2012, Vol. 209 Issue: 10 p1926-1933, 8p
Periodyk
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.