Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Miller, T. A."" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Measurement of transient atomic displacements in thin films with picosecond and femtometer resolution.
Autorzy:
Kozina, M.
Hu, T.
Wittenberg, J. S.
Szilagyi, E.
Trigo, M.
Miller, T. A.
Uher, C.
Damodaran, A.
Martin, L.
Mehta, A.
Corbett, J.
Safranek, J.
Reis, D. A.
Lindenberg, A. M.
Pokaż więcej
Temat:
ATOMIC displacements
THIN films
PICOSECOND pulses
X-ray diffraction measurement
BISMUTH
PHOTOFERROELECTRIC effect
Źródło:
Structural Dynamics; 2014, Vol. 1 Issue 3, p1-8, 8p
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies