- Tytuł:
- Impact of an AlGaN spike in the buffer in 0.15 μm AlGaN/GaN HEMTs during step stress
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability November 2021 126
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.