- Tytuł:
- Double-cantilever device for Atomic Force Microscopy in dynamic noncontact-mode
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronics Reliability 2002 42(9):1685-1688
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.