Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Nakamura N"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Advanced resonant ultrasound spectroscopy for measuring anisotropic elastic constants of thin films.
Autorzy:
Ogi, H.
Nakamura, N.
Hirao, M.
Pokaż więcej
Temat:
THIN films
SPECTRUM analysis
RESONANT ultrasound spectroscopy
COMPOSITE materials
MICROMECHANICS
SURFACES (Technology)
Źródło:
Fatigue & Fracture of Engineering Materials & Structures; Aug2005, Vol. 28 Issue 8, p657-663, 7p
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies