Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Nayak, Kaushik"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Immunity to random fluctuations induced by interface trap variability in Si gate-all-around n-nanowire field-effect transistor devices
Autorzy:
Sudarsanan, Akhil
Nayak, Kaushik
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Computational Electronics. 20(3):1169-1177
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies