Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Nguyen, V. -T."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Distribution Coefficients and Accumulation Rates of Ra-226 and Po-210 in Some Agricultural Soils
Autorzy:
Nguyen, V. T.Aff1, Aff2, Aff3, IDS106422932370028X_cor1
Huynh, N. P. T.Aff1, Aff3
Le, C. H.Aff1, Aff2, Aff3
Pokaż więcej
Źródło:
Eurasian Soil Science. 57(3):524-535
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Modern Methods Analysis of Longitudinally Welded Pipes Production in the Continuous Forming Mill TESA10-50 (Pipe Electrical Welding Unit) of the Different Types of Configurations
Autorzy:
Samusev, S. V.Aff1, IDS0967091223110281_cor1
Sidorova, T. Y.
Nguyen, V. T.
Pokaż więcej
Źródło:
Steel in Translation. 53(11):1001-1004
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Extraction of Mo hot atoms made by a neutron capture method from α-MoO3 to water
Autorzy:
Quach, N. M.Aff1, Aff2, Aff3, IDs10967023091257_cor1
Ngo, M. C.Aff1, Aff4
Yang, Y.
Nguyen, T. B.
Nguyen, V. T.
Fujita, Y.
Do, T. M. D.Aff1, Aff2
Nakayama, T.
Suzuki, T.
Suematsu, H.Aff1, Aff2
Pokaż więcej
Źródło:
Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry: An International Journal Dealing with All Aspects and Applications of Nuclear Chemistry. 332(10):4057-4064
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Evaluation of Undiagnosed HIV Estimates Computed from the CD4 Depletion Model in a Rural, Medium–low HIV Prevalence State
Autorzy:
Nguyen, V. T.Aff1, Aff2, Aff6, IDs10461021034191_cor1
Jatta, A.
Mayer, R.
Meier, J. L.Aff1, Aff4, Aff5
Pokaż więcej
Źródło:
AIDS and Behavior. 26(2):613-622
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Immunity Characterization of FPGA I/Os for Fault-Tolerant Circuit Designs against EMI
Autorzy:
NGUYEN, V. T.
DAM, M. T.
SO, J.
LEE, J.-G.
Pokaż więcej
Temat:
immunity
susceptibility
integrated circuit
electromagnetic compatibility
electromagnetic interference
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Computer engineering. Computer hardware
TK7885-7895
Źródło:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 2, Pp 37-44 (2019)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://doaj.org/toc/1582-7445; https://doaj.org/toc/1844-7600
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/69bb4ba1883445ba836f3cffc69b6039  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies