Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Ukraiński (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Oba, Fumiyasu"" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-20 z 153
Tytuł:
Single‐atom microscopy in wide‐bandgap nitrides.
Autorzy:
Ishikawa, Ryo
Shibata, Naoya
Oba, Fumiyasu
Taniguchi, Takashi
Ikuhara, Yuichi
Pokaż więcej
Temat:
FIELD emission electron microscopy
ALUMINUM nitride
SCANNING transmission electron microscopy
NITRIDES
MICROSCOPY
POINT defects
BORON nitride
Źródło:
International Journal of Applied Ceramic Technology; Jan2023, Vol. 20 Issue 1, p166-173, 8p
Czasopismo naukowe
Pełny tekst  Link otwiera się w nowym oknie Pełny tekstSzczegóły
Wyświetlanie 1-20 z 153

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies