- Tytuł:
- Effect of annealing on the electrical properties of insulating aluminum nitride in MIM and MIS structures
- Autorzy:
- Źródło:
- In Solid State Electronics January 2014 91:106-111
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.