Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę ""Palestri, P."" wg kryterium: Autor


Tytuł:
Critical overview and comparison between models for adsorption-desorption noise in bio-chemical sensors
Autorzy:
Fabrizio Bettetti
Leandro Julian Mele
Pierpaolo Palestri
Pokaż więcej
Temat:
Adsorption-desorption noise
Bio-chemical sensors
Kinetic Monte Carlo
Materials of engineering and construction. Mechanics of materials
TA401-492
Industrial electrochemistry
TP250-261
Źródło:
Applied Surface Science Advances, Vol 18, Iss , Pp 100472- (2023)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S266652392300106X; https://doaj.org/toc/2666-5239
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/a5a3325b360c48f582f8e084a6eb4348  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Reproducing capacitive cyclic voltammetric curves by simulation: When are simplified geometries appropriate?
Autorzy:
Leandro Julian Mele
Claudio Verardo
Pierpaolo Palestri
Pokaż więcej
Temat:
65–02
Industrial electrochemistry
TP250-261
Chemistry
QD1-999
Źródło:
Electrochemistry Communications, Vol 142, Iss , Pp 107378- (2022)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1388248122001801; https://doaj.org/toc/1388-2481
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/9fae5527c9af4c68b9f9d93420d842c3  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Modeling Nanoscale III–V Channel MOSFETs with the Self-Consistent Multi-Valley/Multi-Subband Monte Carlo Approach
Autorzy:
Enrico Caruso
David Esseni
Elena Gnani
Daniel Lizzit
Pierpaolo Palestri
Alessandro Pin
Francesco Maria Puglisi
Luca Selmi
Nicolò Zagni
Pokaż więcej
Temat:
III–V semiconductors
modeling and simulation
Monte Carlo
Electronics
TK7800-8360
Źródło:
Electronics, Vol 10, Iss 20, p 2472 (2021)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://www.mdpi.com/2079-9292/10/20/2472; https://doaj.org/toc/2079-9292
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/7b1695cc3dfb4f8493471b6fa79ff751  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe
Czasopismo naukowe
Tytuł:
Strained Silicon Complementary TFET SRAM: Experimental Demonstration and Simulations
Autorzy:
G. V. Luong
S. Strangio
A. T. Tiedemann
P. Bernardy
S. Trellenkamp
P. Palestri
S. Mantl
Q. T. Zhao
Pokaż więcej
Temat:
SRAM
static noise margins
tunnel FET
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Źródło:
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 6, Pp 1033-1040 (2018)
Opis pliku:
electronic resource
Relacje:
https://ieeexplore.ieee.org/document/8335289/; https://doaj.org/toc/2168-6734
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/a625054c5f9e4591b41c64cc378915ee  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies