Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Pantellini, Alessio"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-11 z 11
Tytuł :
Hot-Electron Degradation of AlGaN/GaN High-Electron Mobility Transistors During RF Operation: Correlation With GaN Buffer Design.
Autorzy :
Bisi, Davide
Chini, Alessandro
Soci, Fabio
Stocco, Antonio
Meneghini, Matteo
Pantellini, Alessio
Nanni, Antonio
Lanzieri, Claudio
Gamarra, Piero
Lacam, Cedric
Tordjman, Maurice
di-Forte-Poisson, Marie-Antoinette
Meneghesso, Gaudenzio
Zanoni, Enrico
Pokaż więcej
Temat :
ELECTRON mobility
ELECTRIC field strength
RADIO frequency
ELECTRIC conductivity
HEAT storage
Źródło :
IEEE Electron Device Letters; Oct2015, Vol. 36 Issue 10, p1011-1014, 4p
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-11 z 11

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies