- Tytuł:
- Diamond scanning probes with sub-nanometer resolution for advanced nanoelectronics device characterization
- Autorzy:
- Źródło:
- In Microelectronic Engineering 15 June 2016 159:46-50
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.