- Tytuł:
- Near-Field High-Frequency Probing
- Autorzy:
- Źródło:
- Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale. :315-345
Książka elektroniczna
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.