Autor: "Pietsch, Ullrich" - OpacWWW

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: VHCF damage in duplex stainless steel revealed by microbeam energy-dispersive X-ray Laue diffraction
Autorzy:: Abboud, Ali
AlHassan, Ali
Dönges, Benjamin
Micha, Jean Sebastian
Hartmann, Robert
Strüder, Luthar
Christ, Hans-Jürgen
Pietsch, Ullrich; Pokaż więcej
Źródło:: In International Journal of Fatigue October 2021 151

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Evolution of the residual stresses of types I, II, and III of duplex stainless steel during cyclic loading in high and very high cycle fatigue regimes
Autorzy:: Fu, Hongwang
Dönges, Benjamin
Krupp, Ulrich
Pietsch, Ullrich
Fritzen, Claus-Peter
Yun, Xinbing
Christ, Hans-Jürgen; Pokaż więcej
Źródło:: In International Journal of Fatigue January 2021 142

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Microcrack initiation mechanism of a duplex stainless steel under very high cycle fatigue loading condition: The significance of load partitioning and micro residual stresses
Autorzy:: Fu, Hongwang
Dönges, Benjamin
Krupp, Ulrich
Pietsch, Ullrich
Fritzen, Claus-Peter
Yun, Xinbing
Christ, Hans-Jürgen; Pokaż więcej
Źródło:: In Acta Materialia 15 October 2020 199:278-287

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Influence of different loading stresses on the peak shape of X-ray rocking curves of an austenitic-ferritic duplex stainless steel during VHCF
Autorzy:: Hüsecken, A. K.
Dönges, B.
Söker, M.
Istomin, K.
Krupp, Ulrich
Christ, Hans-Jürgen
Pietsch, Ullrich; Pokaż więcej
Źródło:: Fatigue of Materials at Very High Numbers of Loading Cycles : Experimental Techniques, Mechanisms, Modeling and Fatigue Life Assessment. :133-147

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Lithography-free variation of the number density of self-catalyzed GaAs nanowires and its impact on polytypism
Autorzy:: Schroth, PhilippAff126, Aff226, Aff326
Jakob, JulianAff226, Aff326
Feigl, Ludwig
Kashani, Seyed Mohammad Mostafavi
Pietsch, Ullrich
Baumbach, TiloAff226, Aff326; Pokaż więcej
Źródło:: MRS Communications. 8(3):871-877

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Informacja:: Dostęp do tej pozycji wymaga zalogowania się.

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analysis of VHCF damage in a duplex stainless steel using hard X-ray diffraction techniques
Autorzy:: Istomin, Konstantin
Dönges, Benjamin
Schell, Norbert
Christ, Hans-Jürgen
Pietsch, Ullrich; Pokaż więcej
Źródło:: In International Journal of Fatigue September 2014 66:177-182

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Phase Transitions and Formation of a Monolayer-Type Structure in Thin Oligothiophene Films: Exploration with a Combined In Situ X-ray Diffraction and Electrical Measurements
Autorzy:: Mikayelyan, Eduard
Grodd, Linda
Ksianzou, Viachaslau
Wesner, Daniel
Rodygin, Alexander I.Aff4, Aff5
Schönherr, Holger
Luponosov, Yuriy N.
Ponomarenko, Sergei A.Aff6, Aff7
Ivanov, Dimitri A.Aff4, Aff5, Aff8, Aff9
Pietsch, Ullrich
Grigorian, SourenAff1, Aff10; Pokaż więcej
Źródło:: Nanoscale Research Letters. 14(1)

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Exploiting flux shadowing for strain and bending engineering in core–shell nanowires.
Autorzy:: Al Humaidi, Mahmoud
Jakob, Julian
Al Hassan, Ali
Davtyan, Arman
Schroth, Philipp
Feigl, Ludwig
Herranz, Jesús
Novikov, Dmitri
Geelhaar, Lutz
Baumbach, Tilo
Pietsch, Ullrich; Pokaż więcej
Źródło:: Nanoscale; 2/7/2023, Vol. 15 Issue 5, p2254-2261, 8p

Czasopismo naukowe

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Strain Analysis in Periodic Nanostructures
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :317-352

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 11.

Tytuł:: X-Ray Scattering from Self-Organized Structures
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :353-387

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 12.

Tytuł:: X-Ray Scattering by Artificially Lateral Semiconductor Nanostructures
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :279-316

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 13.

Tytuł:: Lattice Parameters and Strains in Epitaxial Layers and Multilayers
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :179-203

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 14.

Tytuł:: Determination of Layer Thicknesses of Single Layers and Multilayers
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :143-178

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 15.

Tytuł:: Diffuse Scattering From Volume Defects in Thin Layers
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :205-233

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 16.

Tytuł:: X-Ray Scattering by Rough Multilayers
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :235-272

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 17.

Tytuł:: Semikinematical Theory
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :123-135

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 18.

Tytuł:: Dynamical Theory
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :97-121

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 19.

Tytuł:: Diffractometers and Reflectometers
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :31-42

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 20.

Tytuł:: Kinematical Theory
Autorzy:: Pietsch, Ullrich
Holý, Václav
Baumbach, Tilo; Pokaż więcej
Źródło:: High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures. :75-95

Książka elektroniczna

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę ""Pietsch, Ullrich"" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Ogranicz do:

Ogranicz do bazy

Typ dokumentu

Temat

Wydawca

Publikacja

Język