Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Pommerenke, David"" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-18 z 18
Tytuł :
Measurement-Based Validation of Integrated Circuit Transient Electromagnetic Event Sensors.
Autorzy :
Marathe, Shubhankar
Patnaik, Abhishek
Mi, Rui
Ghosh, Kaustav
Kim, Jingook
Pommerenke, David
Beetner, Daryl G.
Pokaż więcej
Temat :
INTEGRATED circuits
USB (Computer bus)
DETECTORS
ANALOG-to-digital converters
ELECTRIC potential measurement
ELECTRIC fields
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Aug2020, Vol. 62 Issue 4, p1555-1562, 8p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Measurement Techniques to Identify Soft Failure Sensitivity to ESD.
Autorzy :
Zhou, Jianchi
Guo, Yuandong
Shinde, Satyajeet
Hosseinbeig, Ahmad
Patnaik, Abhishek
Izadi, Omid Hoseini
Zeng, Chen
Shi, Jun
Maeshima, Junji
Shumiya, Hideki
Araki, Kenji
Pommerenke, David J.
Pokaż więcej
Temat :
ELECTROSTATIC discharges
FAST Fourier transforms
NEAR-fields
THERMOGRAPHY
DESIGN failures
USER interfaces
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Aug2020, Vol. 62 Issue 4, p1007-1016, 10p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
A Systematic Method to Characterize the Soft-Failure Susceptibility of the I/Os on an Integrated Circuit Due to Electrostatic Discharge.
Autorzy :
Orr, Benjamin J.
Koch, Sebastian
Gossner, Harald
Pommerenke, David J.
Pokaż więcej
Temat :
ELECTROSTATIC discharges
INTEGRATED circuits
SOFT errors
SOFTWARE architecture
SYSTEMS software
FAILURE mode & effects analysis
INTEGRATED circuit design
SOFTWARE failures
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Feb2020, Vol. 62 Issue 1, p16-24, 9p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
An On-Chip Detector of Transient Stress Events.
Autorzy :
Patnaik, Abhishek
Suchak, Mihir
Seva, Ramu
Pamidimukkala, Keerthana
Edgington, Greg
Moseley, Richard
Feddeler, James (Jim)
Stockinger, Michael
Pommerenke, David
Beetner, Daryl G.
Pokaż więcej
Temat :
ON-chip charge pumps
DEBUGGING
ELECTROSTATIC discharges
ELECTRONIC systems
INTEGRATED circuits
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Apr2018, Vol. 60 Issue 4, Part 2, p1053-1060, 8p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Experimental Characterization and Modeling of Surface Discharging for an Electrostatic Discharge (ESD) to an LCD Display.
Autorzy :
Gan, Yingjie
Talebzadeh, Atieh
Xu, Xiaoying
Shinde, Satyajeet
Zeng, Yifeng
Kim, Ki-Hyuk
Pommerenke, David
Pokaż więcej
Temat :
ELECTRIC discharges
INTEGRATED circuits
ELECTRONIC circuits
LIQUID crystal displays
ELECTRONIC structure
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Feb2018, Vol. 60 Issue 1, p96-106, 11p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Modeling Static Delay Variations in Push–Pull CMOS Digital Logic Circuits Due to Electrical Disturbances in the Power Supply.
Autorzy :
Gao, Xu
Sui, Chunchun
Hemmady, Sameer
Rivera, Joey
Yakura, Susumu Joe
Pommerenke, David
Patnaik, Abhishek
Beetner, Daryl G.
Pokaż więcej
Temat :
COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors
LOGIC circuits
ELECTRIC power
INTEGRATED circuits
SOFT errors
ELECTRIC potential
TIME delay estimation
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Oct2015, Vol. 57 Issue 5, p1179-1187, 9p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Heat-Sink Modeling and Design With Dipole Moments Representing IC Excitation.
Autorzy :
Yu, Zhenwei
Mix, Jason A.
Sajuyigbe, Soji
Slattery, Kevin P.
Pommerenke, David
Fan, Jun
Pokaż więcej
Temat :
DIPOLE moments
ELECTRONIC excitation
INTEGRATED circuits
MAGNETIC moments
ELECTROMAGNETIC fields
PREDICTION models
MAGNETIC resonance imaging
NEAR-fields
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Feb2013, Vol. 55 Issue 1, p168-174, 7p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Unbalanced Currents in Integrated Circuits and Their Effect on TEM Cell Emissions.
Autorzy :
Hu, Kuifeng
Weng, Haixiao
Beetner, Daryl G.
Pommerenke, David
Drewniak, James
Pokaż więcej
Temat :
ELECTRIC currents
INTEGRATED circuits
FIELD emission
PRINTED circuits
ELECTROMAGNETIC induction
ELECTRIC interference
ELECTRIC power systems
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; Aug2011, Vol. 53 Issue 3, p600-610, 11p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Full-Wave Simulation of an Electrostatic Discharge Generator Discharging in Air-Discharge Mode Into a Product.
Autorzy :
Liu, Dazhao
Nandy, Argha
Zhou, Fan
Huang, Wei
Xiao, Jiang
Seol, Byongsu
Lee, Jongsung
Fan, Jun
Pommerenke, David
Pokaż więcej
Temat :
FULL-wave rectifiers
ELECTRIC discharges
ATMOSPHERIC models
INTEGRATED circuits
ELECTRIC generators
ELECTRIC impedance
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; 02/01/2011, Vol. 53 Issue 1, p28-37, 10p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Susceptibility Scanning as a Failure Analysis Tool for System-Level Electrostatic Discharge (ESD) Problems.
Autorzy :
Muchaidze, Giorgi
Koo, Jayong
Cai, Qing
Li, Tun
Han, Lijun
Martwick, Andrew
Wang, Kai
Min, Jin
Drewniak, James L.
Pommerenke, David
Pokaż więcej
Temat :
ELECTROMAGNETIC compatibility
RADIO interference
ELECTROMAGNETIC interference
ELECTRIC discharges
ELECTROSTATICS
INTEGRATED circuits
Źródło :
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility; May2008, Vol. 50 Issue 2, p268-276, 9p, 10 Black and White Photographs, 14 Diagrams, 1 Chart, 10 Graphs
Czasopismo naukowe
Tytuł :
An Efficient Approach for Power Delivery Network Design With Closed-Form Expressions for Parasitic Interconnect Inductances.
Autorzy :
Chen Wang
Jingkun Mao
Selli, Giuseppe
Shaofeng Luan
Lin Zhang
Jun Fan
Pommerenke, David J.
Dubroff, Richard E.
Drewniak, James L.
Pokaż więcej
Temat :
INTEGRATED circuit interconnections
CAVITY resonators
PRINTED circuits
ELECTRIC inductance
CAPACITORS
DIRECT currents
INTEGRATED circuits
Źródło :
IEEE Transactions on Advanced Packaging; May2006, Vol. 29 Issue 2, p320-334, 15p, 10 Black and White Photographs, 11 Diagrams, 3 Charts, 7 Graphs
Czasopismo naukowe
    Wyświetlanie 1-18 z 18

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies