Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Profilometrie"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Quantitative evaluation of the progressive wear of powered interproximal reduction systems after repeated use: An in vitro study
Autorzy :
Livas, C.Aff1, Aff2
Baumann, T.
Flury, S.
Pandis, N.
Pokaż więcej
Alternatywny tytuł :
Quantitative Untersuchung der fortschreitenden Abnutzung elektrisch angetriebener Interproximal-Reduktionssysteme bei wiederholter Anwendung: Eine In-vitro-Studie
Źródło :
Journal of Orofacial Orthopedics / Fortschritte der Kieferorthopädie: Official Journal of the German Orthodontic Society / Offizielle Zeitschrift der Deutschen Gesellschaft für Kieferorthopädie. 81(1):22-29
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Quantitative evaluation of the progressive wear of powered interproximal reduction systems after repeated use
Autorzy :
Livas, C.
Baumann, T.
Flury, S.
Pandis, N.
Pokaż więcej
Temat :
Original Article
Dental high-speed technique
Surface roughness
Optical profilometer
Dental enamel
Enamel stripping methods
Zahnmedizinische Hochgeschwindigkeitstechnik
Oberflächenrauigkeit
Optische Profilometrie
Zahnschmelz
Methoden zur Schmelzreduktion
Źródło :
Journal of Orofacial Orthopedics
Tytuł :
Decorrelation-induced speckle phase noise in two-wavelength digital holographic profilometry
Autorzy :
Piniard, Matthieu
Picart, Pascal
Sorrente, Béatrice
Hug, Gilles
Pokaż więcej
Temat :
SCATTERING
ROUGH SURFACES
IMAGE RECONSTRUCTION TECHNIQUES
HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY
DIGITAL HOLOGRAPHY
PROFILOMETRIE
DEUX LONGUEURS D'ONDE
HOLOGRAPHIE NUMERIQUE
SPECKLE
[SPI]Engineering Sciences [physics]
[PHYS]Physics [physics]
Źródło :
Digital Holography and 3D Imaging
Digital Holography and 3D Imaging, May 2019, BORDEAUX, France
Tytuł :
Decorrelation-induced speckle phase noise in two-wavelength digital holographic profilometry
Autorzy :
Piniard, Matthieu
Picart, Pascal
Sorrente, Béatrice
Hug, Gilles
Pokaż więcej
Temat :
PROFILOMETRIE
SPECKLE
Physics::Optics
ROUGH SURFACES
SCATTERING
[PHYS]Physics [physics]
[SPI]Engineering Sciences [physics]
IMAGE RECONSTRUCTION TECHNIQUES
HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY
DIGITAL HOLOGRAPHY
DEUX LONGUEURS D'ONDE
HOLOGRAPHIE NUMERIQUE
Źródło :
Digital Holography and 3D Imaging
Digital Holography and 3D Imaging, May 2019, BORDEAUX, France
Tytuł :
Fyzikální vlastnosti redukce tenkých vrstev grafen oxidu připravených materiálovým tiskem
Autorzy :
Veronika Schmiedova
Jan Pospisil
Alexander Kovalenko
Petr Ashcheulov
Ladislav Fekete
Tomas Cubon
Peter Kotrusz
Oldrich Zmeskal
Martin Weiter
Pokaż więcej
Temat :
UV-VIS absorpce
profilometrie
solární články
inkjet printing
UV-VIS absorption
Technology (General)
profilometry
spectroscopic ellipsometry
Organické materiály
materiálová tiskárna
Organic materials
spektroskopická elipsometrie
solar cells
T1-995
Article Subject
Źródło :
Journal of Nanomaterials. 2017, issue 2017, p. 1-8.
Journal of Nanomaterials, Vol 2017 (2017)
Opis pliku :
text/xhtml; text; application/pdf
Tytuł :
Optimalizace depozičních podmínek při materiálovém tisku vrstev oxidu titaničitého
Optimization depozition variables during material printing of titania coatings
Autorzy :
Mlčkovová, Hana
Pokaż więcej
Temat :
Oxid titaničitý
metoda sol-gel
materiálový tisk
profilometrie
Titanium dioxide
sol-gel method
materials printing
profilometry
Źródło :
MLČKOVOVÁ, H. Optimalizace depozičních podmínek při materiálovém tisku vrstev oxidu titaničitého [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2017.
Opis pliku :
text/html; application/pdf
Tytuł :
Hloubkové profilování metodou spektrometrie laserem buzeného mikroplazmatu
Depth profiling using laser-induced breakdown spectroscopy method
Autorzy :
Průcha, Lukáš
Pokaż więcej
Temat :
LIBS
spektroskopie laserem buzeného mikroplazmatu
hloubkový profil
mapování
3D mapování
optimalizace
hloubkové rozlišení
AAR
profilometrie
Laser-Induced Breakdown Spectroscopy
depth profile
mapping
3D mapping
optimization
depth resolution
profilometry
Źródło :
PRŮCHA, L. Hloubkové profilování metodou spektrometrie laserem buzeného mikroplazmatu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2016.
Opis pliku :
text/html
Tytuł :
Die Profilometrie: Eine Dokumentationsmethode der Hautstruktur
Autorzy :
Binder, Martina
Macheiner, Walter
Schmidt, Jolanta B.
Pokaż więcej
Alternatywny tytuł :
Profilometry. A method of skin surface analysis
Źródło :
Der Hautarzt: Zeitschrift für Dermatologie, Allergologie, Venerologie und verwandte Gebiete. August 1994 45(8):546-550
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Studium elektrických a dielektrických vlastností iontových kapalin
Study of electrical and dielectric properties of ionic liquids
Autorzy :
Plesníková, Lucie
Pokaż więcej
Temat :
Iontové kapaliny
PSS [PEDOT]
UV – VIS
rotační nanášení
profilometrie
impedanční spektroskopie
volt-ampérové charakteristiky
Ionic liquids
spin coating
profilometry
impedance spectroscopy
currentvoltage characteristics
Źródło :
PLESNÍKOVÁ, L. Studium elektrických a dielektrických vlastností iontových kapalin [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2015.
Opis pliku :
application/pdf; text/html
Tytuł :
Studium optoelektrických vlastností tenkých vrstev organických polovodičů na bázi ftalocyaninů
Study of optoelectrical properties of organic semiconductor thin film layers of phtalocyanines
Autorzy :
Miklíková, Zdeňka
Pokaż więcej
Temat :
Fotovoltaika
solární článek
organický fotovoltaický článek
fotoaktivní materiály
struktury
tenké vrstvy
excitony
ftalocyaniny
fullereny
iontové kapaliny
sendvič
GAP
FET
OFET
metody nanášení
materiálový tisk
volt-ampérová charakteristika
impedanční spektroskopie
optická mikroskopie
profilometrie
elipsometrie
Photovoltaics
solar cell
organic solar cell
photoactive materials
structures
thin layers
excitons
phthalocyanines
fullerenes
ionic liquids
sandwich
the application methods
material printing
volt-ampere characteristics
impedance spectroscopy
optical microscopy
profilometry
ellipsometry
Źródło :
MIKLÍKOVÁ, Z. Studium optoelektrických vlastností tenkých vrstev organických polovodičů na bázi ftalocyaninů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2015.
Opis pliku :
text/html
Tytuł :
Optické vlastnosti ochranných emulzí
Optical properties of protective emulsions
Autorzy :
Valasová, Denisa
Pokaż więcej
Temat :
emulze
UV záření
UV filtry
tenké vrstvy
optické vlastnosti
UV-VIS spektrofotometrie
profilometrie
elipsometrie
emulsions
UV radiation
UV filters
thin layers
optical properties
UV-VIS spectrophotometry
profilometry
elipsometry
Źródło :
VALASOVÁ, D. Optické vlastnosti ochranných emulzí [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2015.
Opis pliku :
application/pdf; text/html
Tytuł :
Systém pro precizní 3D snímání spojitého povrchu nožní klenby
System for precise 3D capturing of the continues surface of the foot arch
Autorzy :
Fojtík, Tomáš
Pokaż więcej
Temat :
Phase-shifting profilometrie
segmentace
unwrapping
MATLAB
Phase-shifting profilometry profilometry
segmentation
Źródło :
FOJTÍK, T. Systém pro precizní 3D snímání spojitého povrchu nožní klenby [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2014.
Opis pliku :
text/html; application/octet-stream; application/pdf
Tytuł :
Testování reflexního módu multimodálního holografického mikroskopu
Testing of multimodal holographic microscope in reflection mode
Autorzy :
Kachtík, Lukáš
Pokaż więcej
Temat :
holografický mikroskop
profilometrie
osová intenzitní odezva
axiální a laterální rozlišovací schopnost
holographic microscope
profilometry
axial intensity response
axial and lateral resolution ability
Źródło :
KACHTÍK, L. Testování reflexního módu multimodálního holografického mikroskopu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2014.
Opis pliku :
application/pdf; text/html

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies