Emissivity Measurements of Vanadium Dioxide Thin Films through the Thermal Wave Resonant Cavity and its Applications in Radiative Thermal Diode and Transistor Simulations.
Novel medium‐permittivity Ba2.92Cu0.08(Zn1/3Nb2/3)2Ti2Nb4O21 microwave dielectric ceramics with high Q × f value and densification for low‐temperature co‐fired ceramics electronic devices
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies