- Tytuł:
- High–low Kelvin probe force spectroscopy for measuring the interface state density
- Autorzy:
- Temat:
-
high–low kelvin probe force microscopy
high–low kelvin probe force spectroscopy
interface state density
kelvin probe force microscopy
kelvin probe force spectroscopy
Technology
Chemical technology
TP1-1185
Science
Physics
QC1-999 - Źródło:
- Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 14, Iss 1, Pp 175-189 (2023)
- Opis pliku:
- electronic resource
- Relacje:
- https://doaj.org/toc/2190-4286
- Dostęp URL:
- https://doaj.org/article/ff06d981d2f94ceab09ada6f23ffcd01  Link otwiera się w nowym oknie
Czasopismo naukowe