- Tytuł:
- Admittance spectroscopy study of defects in β-Ga2O3.
- Autorzy:
- Źródło:
-
Thin Solid Films . Jan2024, Vol. 789, pN.PAG-N.PAG. 1p.
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.