Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""STRAY currents"" wg kryterium: Temat


Tytuł :
Electrically detected magnetic resonance and near-zero field magnetoresistance in SiO2.
Autorzy :
Frantz, Elias B. (AUTHOR)
Michalak, David J. (AUTHOR)
Harmon, Nicholas J. (AUTHOR)
Henry, Eric M. (AUTHOR)
Moxim, Stephen J. (AUTHOR)
Flatté, Michael E. (AUTHOR)
King, Sean W. (AUTHOR)
Clarke, James S. (AUTHOR)
Lenahan, Patrick M. (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Applied Physics. 8/14/2021, Vol. 130 Issue 6, p1-7. 7p.
Czasopismo naukowe
Tytuł :
전기자동차 충전기의 누전차단기 감도 전류 Trip 방지를 위한 Joule Heating 시뮬레이션 방안연구.
Autorzy :
이병국
어익수
Pokaż więcej
Alternatywny tytuł :
A Study on Joule Heating Simulation Method to Prevent Sensitivity Current Trip of Electric Vehicle Charger.
Źródło :
Journal of the Korea Academia-Industrial Cooperation Society. 2021, Vol. 22 Issue 4, p150-159. 10p.
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Performance and electron radiation damage of InAs/GaSb long-wave infrared detectors based on PπMN design.
Autorzy :
Wei, Guoshuai
Hao, Ruiting
Li, Xiaoming
Wang, Yunpeng
Fang, Shuiliu
Guo, Jie
Ma, Xiaole
Ren, Yang
Li, Junbin
Kong, JinCheng
Wang, Guowei
Xu, Yingqiang
Wu, Donghai
Niu, Zhichuan
Pokaż więcej
Temat :
INFRARED detectors
RADIATION damage
STRAY currents
ATOMIC force microscopes
ELECTRONS
X-ray diffraction
Źródło :
Journal of Applied Physics; 8/21/2021, Vol. 130 Issue 7, p1-7, 7p
Czasopismo naukowe
Tytuł :
Self-terminating contactless photo-electrochemical (CL-PEC) etching for fabricating highly uniform recessed-gate AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors (HEMTs).
Autorzy :
Toguchi, Masachika
Miwa, Kazuki
Horikiri, Fumimasa
Fukuhara, Noboru
Narita, Yoshinobu
Ichikawa, Osamu
Isono, Ryota
Tanaka, Takeshi
Sato, Taketomo
Pokaż więcej
Temat :
MODULATION-doped field-effect transistors
GALLIUM nitride
STRAY currents
ETCHING
CHARGE carrier mobility
SURFACE roughness
STANDARD deviations
Źródło :
Journal of Applied Physics; 7/14/2021, Vol. 130 Issue 2, p1-10, 10p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies