Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Sahin, D."" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Evolution of SiO 2/Ge/HfO 2(Ge) multilayer structure during high temperature annealing
Autorzy :
Sahin, D.
Pokaż więcej
Źródło :
In Proceedings of the EMRS 2009 Spring Meeting Symposium I: Silicon and germanium issues for future CMOS devices, Thin Solid Films 2010 518(9):2365-2369
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies